ZSX Primus Ⅱ型 X射线荧光光谱仪
英文名:X-ray fluorescence spectrometer
型号: ZSX Primus Ⅱ
制造商:日本株式会社理学(Rigaku)
房间:化学实验楼127 负责人:吴华涛 联系电话:18437505815
年份:2016年
主要特点:
1. 轻元素(B,C)灵敏度大幅度提高
2. 配备最新的、高强度的分光晶体RX-25,RX-61,RX-75
3. 重金属的高灵敏度分析-采用最新型光学系统
4. 高灵敏度微区分析-Mapping位置分辨率100μm
5. 完美的无标样分析-最新的SQX软件
6. 仪器设计充分考虑周边环境-节能、省空间
应用范围:
1. 能分析元素周期表中F(9)~U(92)之间所有元素
2. 样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等
3. 分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。
主要技术参数
硬件:
1. X射线光管:4kW、30μm薄窗X射线光管
2. 光学系统:采用新型分光晶体
3. 样品交换器:最多可放置48个样品
4. 1次X射线滤光片:除去X射线光管的特征X射线光谱。
5. 真空系统:采用双真空系统(样品室/预抽真空室)
6. 粉末附件:电磁阀真空密封
7. 定点分析:位置分辨率可达100um,可以进行0.5mm的微区分析
8. 循环冷却水:5 L/min
9. PR气体流速:5 mL/min
10. 样品台:使用r-θ样品台
9778818威尼斯2024-2025学年第一学期实验教学课表 |
课程 |
实验项目 |
实验时数 |
指导教师 |
周次 |
节次 |
实验(分)室 |
[32123703] 仪器分析 |
X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 |
4.0 |
刘沛松 |
4 |
三[5-8节] |
C127X射线荧光分析室 |
[32123703] 仪器分析 |
X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 |
4.0 |
刘沛松 |
4 |
五[1-4节] |
C127X射线荧光分析室 |
[32123703] 仪器分析 |
X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 |
4.0 |
刘沛松 |
4 |
五[5-8节] |
C127X射线荧光分析室 |
[32123703] 仪器分析 |
X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 |
4.0 |
刘沛松 |
4 |
六[1-4节] |
C127X射线荧光分析室 |
[32123703] 仪器分析 |
X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 |
4.0 |
刘沛松 |
4 |
六[5-8节] |
C127X射线荧光分析室 |
[32123703] 仪器分析 |
X射线荧光光谱仪(XRF)测定土壤矿质元素含量 |
4.0 |
刘沛松 |
4 |
七[5-8节] |
C127X射线荧光分析室 |